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| 356 | 채널 길이와 두께에 따른 FBFET 배열 소자의 IMP 연산 신뢰성 연구 |
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제 31회 반도체학술대회, 대한민국 / 2024.01.24 - 2024.01.26
오정윤, 전주희, 손재민, 조경아, 김상식
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